کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5366061 | 1388343 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of primary oxygen ion implantation on SIMS depth profiling in glasses
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The influence of the primary oxygen ion implantation on SIMS in-depth profiles in halide and chalcogenide glasses was examined. Various behaviours of particular profiles were generally explained in terms of the chemical affinity of analysed reactants and modifications of the glass structure induced by primary ions.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 18, 15 July 2006, Pages 6107-6110
Journal: Applied Surface Science - Volume 252, Issue 18, 15 July 2006, Pages 6107-6110
نویسندگان
Marek Tuleta,