کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
543162 | 871633 | 2013 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Vector two-tone measurements for validation of non-linear microwave FinFET model
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The goal of this paper is to demonstrate the added value of vector two-tone measurements in validating a microwave transistor model. By having the phase information of the low frequency intermodulation products, the model can be evaluated completely both in frequency and time domain. The approach is illustrated on a non-dispersive FinFET.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 87, Issue 10, October 2010, Pages 2008–2013
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 87, Issue 10, October 2010, Pages 2008–2013
نویسندگان
Giovanni Crupi, Gustavo Avolio, Dominique M.M.-P. Schreurs, Guillaume Pailloncy, Alina Caddemi, Bart Nauwelaers,