Carbon contamination in scanning transmission electron microscopy and its impact on phase-plate applications

ما در یک میکروسکوپ الکترونی عبور الکترون را بررسی می کنیم. این مطالعه بر روی فیلم های نازک به صورت بالقوه به عنوان صفحات فازی برای میکروسکوپ الکترونی انتقال فاز کنتراست انجام می شود. برای تجزیه و تحلیل آلودگی، طیف سنجی از دست دادن انرژی الکترون و تصویربرداری صفحه فاز استفاده می شود. لایه آلودگی رسوب شده به عنوان یک لایه کربن گرافیتی شناخته می شود که مستعد ابتلا به شار الکترواستاتیک نیست، در حالیکه زیرساخت های زیرین غیر رسانایی اتهام می زند. روش های متعددی که مانع از آلودگی می شوند، مورد بررسی قرار می گیرند و تاثیر آلودگی کربن بر روی تصویربرداری صفحه فاز مورد بحث قرار می گیرد. این یافته ها به طور کلی برای کاربردهای میکروسکوپ الکترونی فرستنده اسکن شده است.