کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5466725 1518299 2017 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
New instrumentation and cutting edge research
ترجمه فارسی عنوان
ابزار آلات جدید و تحقیقات برش لبه
کلمات کلیدی
تصویربرداری پروژکتور تحریک در نزدیکی، تصویربرداری فونون،
ترجمه چکیده
تحریک شده توسط کمک های اوندری کریوانک، تعامل پیچیده بین تحقیق و نوآوری در ابزار دقیق برای میکروسکوپ الکترونی مورد بحث قرار گرفته است. توجه خاص به اصلاح آبراهاری و طیف سنجی در هر دو منطقه ولنس و در انرژی فونون های موضعی یا ارتعاشات پیوند داده می شود. تفکر کنونی در مورد تصویربرداری پروژکتور و نظریه تحریک دی الکتریک ممکن است به چالش کشیده شود. میکروسکوپ الکترونی بیشتر در زمینه های جدید بازرسی به آنها باز می شود، به ویژه با انجمن های میکروسکوپ تونلی فوتونیک و اسکن می بایست روابط نزدیک تر برقرار شود. پیشرفت های بیشتری در ابزار دقیق می تواند به سمت تصویربرداری و اسپکتروسکوپی در زوایای پراکندگی بالاتر و همچنین ترکیب سایر امکانات مانند تحریک فوتونی و تصویربرداری الکترونی ثانویه هدایت شود.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش مقاله
ابزار آلات جدید و تحقیقات برش لبه
چکیده انگلیسی
Stimulated by Ondrej Krivanek's contributions, the complex interaction between research and innovations in the instrumentation for electron microscopy is discussed. Specific attention is given to aberration correction and to spectroscopy in both the valence region and at the energies of localised phonons or bond vibrations. Current thinking about projection imaging and dielectric excitation theory may be challenged. More significantly in the new fields of investigation opened up to them, electron microscopists will need to build closer relations, particularly with the photonics and scanning tunnelling microscopy communities. Further improvements in instrumentation could usefully be directed towards imaging and spectroscopy at higher scattering angles as well as the incorporation of other facilities such as photon stimulation and secondary electron imaging.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 180, September 2017, Pages 52-58
نویسندگان
,