کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466731 | 1518299 | 2017 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Scattering delocalization and radiation damage in STEM-EELS
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We discuss the delocalization of the inelastic scattering of 60-300Â keV electrons in a thin specimen, for energy losses below 50Â eV where the delocalization length exceeds atomic dimensions. Analytical expressions are derived for the point spread function (PSF) that describes the radial distribution of this scattering, based on its angular distribution and a dielectric representation of energy loss. We also compute a PSF for energy deposition, which is directly related to the radiolysis damage created by a small-diameter probe. These concepts are used to explain the damage kinetics, measured as a function of probe diameter, in various polymers. We also evaluate a “leapfrog” coarse-scanning procedure as a technique for energy-filtered imaging of a beam-sensitive specimen.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 180, September 2017, Pages 115-124
Journal: Ultramicroscopy - Volume 180, September 2017, Pages 115-124
نویسندگان
R.F. Egerton,