کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
6943504 1450344 2015 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
μ-Raman spectroscopy and FE-modeling for TSV-Stress-characterization
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
μ-Raman spectroscopy and FE-modeling for TSV-Stress-characterization
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 137, 2 April 2015, Pages 105-110
نویسندگان
, , , , ,