کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7833866 1503524 2018 18 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A comprehensive study of the TiN/Si interface by X-ray photoelectron spectroscopy
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
A comprehensive study of the TiN/Si interface by X-ray photoelectron spectroscopy
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 448, 1 August 2018, Pages 502-509
نویسندگان
, , ,