کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7837372 | 1504171 | 2018 | 15 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Stretched-to-compressed-exponential crossover observed in the electrical degradation kinetics of some spinel-metallic screen-printed structures
ترجمه فارسی عنوان
کراسوراسیون کشیده شده به فشرده-نمایشی مشاهده شده در سینتیک تخریب الکتریکی برخی از سازه های چاپی اسپینل فلزی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
آرامش الکتریکی، اسپینل، سرامیک، سینتیک، کشش-نمایشی، فشرده - نمایشی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
چکیده انگلیسی
Thermally-induced (170â¯Â°C) degradation-relaxation kinetics is examined in screen-printed structures composed of spinel Cu0.1Ni0.1Co1.6Mn1.2O4 ceramics with conductive Ag or Ag-Pd layered electrodes. Structural inhomogeneities due to Ag and Ag-Pd diffusants in spinel phase environment play a decisive role in non-exponential kinetics of negative relative resistance drift. If Ag migration in spinel is inhibited by Pd addition due to Ag-Pd alloy, the kinetics attains stretched exponential behavior with â¼0.58 exponent, typical for one-stage diffusion in structurally-dispersive media. Under deep Ag penetration into spinel ceramics, as for thick films with Ag-layered electrodes, the degradation kinetics drastically changes, attaining features of two-step diffusing process governed by compressed-exponential dependence with power index of â¼1.68. Crossover from stretched- to compressed-exponential kinetics in spinel-metallic structures is mapped on free energy landscape of non-barrier multi-well system under strong perturbation from equilibrium, showing transition with a character downhill scenario resulting in faster than exponential decaying.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Chemical Physics - Volume 501, 14 February 2018, Pages 121-127
Journal: Chemical Physics - Volume 501, 14 February 2018, Pages 121-127
نویسندگان
V. Balitska, O. Shpotyuk, M. Brunner, I. Hadzaman,