کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7986661 1515148 2015 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Instrumental requirements for the detection of electron beam-induced object excitations at the single atom level in high-resolution transmission electron microscopy
ترجمه فارسی عنوان
الزامات ابزاری برای تشخیص تحریکات جسمی ناشی از پرتو الکترونی در سطح اتم تک در میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا
ترجمه چکیده
این سهم در مورد نیازهای اساسی برای ثبات و رزولوشن دستگاه است که اجازه می دهد تا میکروسکوپ های پیشرفته الکترون را در لبه به قابلیت های تکنولوژیکی می دهد. آنها تشخیص اتم های تک و رفتار پویای آنها را در یک مقیاس طول از پیکومتر در زمان واقعی فعال می کنند. قابل فهم است که پویایی اتم مشاهده شده به طور مستقیم با آرامش و حرارتی شدن تحریک نمونه ناشی از پرتو الکترونی ارتباط دارد. در نتیجه نوسانات کنتراست جریان پرتو وابسته است و تا حد زیادی به عدم تطابق کنتراست بین آزمایش ها و تئوری در صورت عدم در نظر گرفتن. در صورت کاوش، آنها امکان مطالعه رفتار عملکردی نانوبلورها و مولکولهای تک در سطح اتمی را در زمان واقعی باز می کنند.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد دانش مواد (عمومی)
چکیده انگلیسی
This contribution touches on essential requirements for instrument stability and resolution that allows operating advanced electron microscopes at the edge to technological capabilities. They enable the detection of single atoms and their dynamic behavior on a length scale of picometers in real time. It is understood that the observed atom dynamic is intimately linked to the relaxation and thermalization of electron beam-induced sample excitation. Resulting contrast fluctuations are beam current dependent and largely contribute to a contrast mismatch between experiments and theory if not considered. If explored, they open the possibility to study functional behavior of nanocrystals and single molecules at the atomic level in real time.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 68, January 2015, Pages 186-193
نویسندگان
, , , , , , ,