Instrumental requirements for the detection of electron beam-induced object excitations at the single atom level in high-resolution transmission electron microscopy

این سهم در مورد نیازهای اساسی برای ثبات و رزولوشن دستگاه است که اجازه می دهد تا میکروسکوپ های پیشرفته الکترون را در لبه به قابلیت های تکنولوژیکی می دهد. آنها تشخیص اتم های تک و رفتار پویای آنها را در یک مقیاس طول از پیکومتر در زمان واقعی فعال می کنند. قابل فهم است که پویایی اتم مشاهده شده به طور مستقیم با آرامش و حرارتی شدن تحریک نمونه ناشی از پرتو الکترونی ارتباط دارد. در نتیجه نوسانات کنتراست جریان پرتو وابسته است و تا حد زیادی به عدم تطابق کنتراست بین آزمایش ها و تئوری در صورت عدم در نظر گرفتن. در صورت کاوش، آنها امکان مطالعه رفتار عملکردی نانوبلورها و مولکولهای تک در سطح اتمی را در زمان واقعی باز می کنند.