کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7986777 | 1515153 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Averaging scheme for atomic resolution off-axis electron holograms
ترجمه فارسی عنوان
مقادیر متوسط برای هولوگرام الکترونها در حلقه اتمی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
هولوگرافی الکترونی خارج از محور، میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا، بازسازی فکری،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
چکیده انگلیسی
All micrographs are limited by shot-noise, which is intrinsic to the detection process of electrons. For beam insensitive specimen this limitation can in principle easily be circumvented by prolonged exposure times. However, in the high-resolution regime several instrumental instabilities limit the applicable exposure time. Particularly in the case of off-axis holography the holograms are highly sensitive to the position and voltage of the electron-optical biprism. We present a novel reconstruction algorithm to average series of off-axis holograms while compensating for specimen drift, biprism drift, drift of biprism voltage, and drift of defocus, which all might cause problematic changes from exposure to exposure. We show an application of the algorithm utilizing also the possibilities of double biprism holography, which results in a high quality exit-wave reconstruction with 75Â pm resolution at a very high signal-to-noise ratio.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Micron - Volume 63, August 2014, Pages 28-34
Journal: Micron - Volume 63, August 2014, Pages 28-34
نویسندگان
T. Niermann, M. Lehmann,