کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8038488 | 1518344 | 2013 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The use of a central beam stop for contrast enhancement in TEM imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Dark field TEM imaging using a stop of the central beam (DF-000) is reported. It is shown that a strong enhancement in the contrast can be obtained for graphene as example of weak phase object and endocytic multivescilar body as example of an unstained biological sample. No charging or significant contamination of the central beam stop is observed. For graphene, a resolution beyond 1Â Ã
â1 was easily obtained. DF-000 imaging can be considered as a good and easy to use alternative of a phase plate.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 134, November 2013, Pages 200-206
Journal: Ultramicroscopy - Volume 134, November 2013, Pages 200-206
نویسندگان
Chao Zhang, Qiang Xu, Peter J. Peters, Henny Zandbergen,