کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9670470 | 1450403 | 2005 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Band alignment between (1Â 0Â 0)Si and Hf-based complex metal oxides
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The electron energy band alignment at the interfaces of Hf-based complex oxides with (100)Si and Au is determined using internal photoemission and photoconductivity measurements. In Hf:Al and Hf:Ti oxides the cations form two sub-networks with no detectable interaction of their unoccupied electron states in the oxide conduction band. Only in the case of Hf and Ta cations with the same symmetry and principal quantum number of the unoccupied atomic orbitals, a gradual variation of the conduction band bottom energy is observed suggesting quantum mixing of Hf- and Ta- 5d* states.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 80, 17 June 2005, Pages 102-105
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 80, 17 June 2005, Pages 102-105
نویسندگان
V.V. Afanas'ev, A. Stesmans, C. Zhao, M. Caymax, Z.M. Rittersma, J.W. Maes,