کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9816866 | 1518375 | 2005 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Contactless current measurements using a needle sensor
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We present an improved method for measuring currents in packaged integrated circuits (IC) for the purpose of test and failure analysis. We use a quartz resonator, called needle sensor, to detect the magnetic field of the device under test (DUT). Thus, the measurement principle is similar to conventional magnetic force microscopy. Compared to a cantilever-based scanning force microscope the advantage of a needle sensor is the much easier test access because of its geometry. With this probe we realized current measurements with a sensitivity of 100 μA. The results are verified by using a simple model describing the basic principle of our measurement setup.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 105, Issues 1â4, November 2005, Pages 228-232
Journal: Ultramicroscopy - Volume 105, Issues 1â4, November 2005, Pages 228-232
نویسندگان
C. Hartmann, W. Mertin, G. Bacher,