کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10128672 | 1645141 | 2018 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Microstructural evolution and electrical resistivity of nanocrystalline W thin films grown by sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
دانش مواد (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials Characterization - Volume 145, November 2018, Pages 473-478
Journal: Materials Characterization - Volume 145, November 2018, Pages 473-478
نویسندگان
Yong Jin Kim, Sung-Gyu Kang, Yeonju Oh, Gyu Won Kim, In Ho Cha, Heung Nam Han, Young Keun Kim,