کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
11001691 | 1010154 | 2019 | 12 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atomic resolution force imaging through the static deflection of the cantilever in simultaneous Scanning Tunneling/Atomic Force Microscopy
ترجمه فارسی عنوان
تصویربرداری با رزولوشن اتمی از طریق انحراف ایستا از کنتاکت در تونل اسکن / میکروسکوپ نیروی اتمی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
We report simultaneous Force -static deflection of the cantilever-, Force Gradient and Scanning Tunneling topography images of Si(111)(7 Ã 7) surface using an off-resonance small amplitude non-contact atomic force microscopy technique with improved force sensitivity. The signal-to-noise ratio of the fiber interferometer used to detect the deflections of the cantilever was improved by applying an RF-modulation into the diode laser, which suppresses the noise in the laser. The measured sensitivity of â¼20â¯fm/âHz allows us to obtain atom resolved images of the surface in static deflection of the cantilever, simultaneously with the other imaging channels.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 196, January 2019, Pages 54-57
Journal: Ultramicroscopy - Volume 196, January 2019, Pages 54-57
نویسندگان
H. Ãzgür Ãzer,