کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4983630 1454362 2017 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Quantitative force microscopy from a dynamic point of view
ترجمه فارسی عنوان
میکروسکوپ نیروی کمی از نقطه نظر دینامیکی
کلمات کلیدی
میکروسکوپ نیروی اتمی، نیروهای سطحی، مکانیک مقیاس نانو متر، دینامیک مقیاس نانومتر،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی شیمی شیمی کلوئیدی و سطحی
چکیده انگلیسی


- Dynamic force measurement enables the study of both viscous and elastic surface forces.
- Intermodulation AFM extracts dynamic force quadrature curves with high speed and accuracy.
- Force quadrature curves reveal the finite relaxation time of a viscoelastic surface.

We discuss the physical origin and measurement of force between an atomic force microscope tip and a soft material surface. Quasi-static and dynamic measurements are contrasted and similarities are revealed by analyzing the dynamics in the frequency domain. Various dynamic methods using single and multiple excitation frequencies are described. Tuned multifrequency lockin detection with one reference oscillation gives a great deal of information from which one can reconstruct the tip-surface interaction. Intermodulation in a weakly perturbed high Q resonance enables the measurement of a new type of dynamic force curve, offering a physically intuitive way to visualize both elastic and viscous forces.

131

ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Current Opinion in Colloid & Interface Science - Volume 27, February 2017, Pages 74-81
نویسندگان
,