کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
5362117 1388281 2012 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Correlation between molecular secondary ion yield and cluster ion sputtering for samples with different stopping powers
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه شیمی شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Correlation between molecular secondary ion yield and cluster ion sputtering for samples with different stopping powers
چکیده انگلیسی
► Power dependency of secondary ion yield on sputtering yield. ► Yield enhancement per primary ion constituent decreases with increasing cluster size. ► Prediction of secondary ion yield enhancement as a function of primary ion species. ► Prediction of degree of fragmentation of sputtered molecules from different samples.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Applied Surface Science - Volume 258, Issue 18, 1 July 2012, Pages 6993-6999
نویسندگان
, , , ,