کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5466635 | 1518295 | 2018 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Contact atomic force microscopy using piezoresistive cantilevers in load force modulation mode
ترجمه فارسی عنوان
با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمی با استفاده از کانتینرهای پیزورزیستی در حالت مدولاسیون نیروی بار
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
میکروسکوپ نیروی اتمی، پروب پیزورزیستی، رانش اسکن رایگان مدولاسیون نیروی بار،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
For these reasons, load force modulation (LoFM) scanning mode, in which the interaction at the tip is precisely controlled at every point of the sample surface, is proposed to enable precise AFM surface investigations using the piezoresistive cantilevers. In this article we describe the developed measurement algorithm as well as proposed and introduced hardware and software solutions. The results of the experiments confirm strong reduction of the AFM entire setup drift. The results demonstrating contactless tip lateral movements are presented. It is common knowledge that such a scanning reduces tip wear.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Ultramicroscopy - Volume 184, Part A, January 2018, Pages 199-208
Journal: Ultramicroscopy - Volume 184, Part A, January 2018, Pages 199-208
نویسندگان
P. Biczysko, A. Dzierka, G. Jóźwiak, M. Rudek, T. Gotszalk, P. Janus, P. Grabiec, I.W. Rangelow,