کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7217205 | 1470237 | 2018 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Nanoscale residual stress depth profiling by Focused Ion Beam milling and eigenstrain analysis
ترجمه فارسی عنوان
پروفیل عمق استحکام باقی مانده نانومتر با استفاده از آنالیز واریانس یونی فشاری متمرکز شده و منگنسترین
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی (عمومی)
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials & Design - Volume 145, 5 May 2018, Pages 55-64
Journal: Materials & Design - Volume 145, 5 May 2018, Pages 55-64
نویسندگان
A.M. Korsunsky, E. Salvati, A.G.J. Lunt, T. Sui, M.Z. Mughal, R. Daniel, J. Keckes, E. Bemporad, M. Sebastiani,