کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7217885 1470272 2016 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Origins of residual stress in thin films: Interaction between microstructure and growth kinetics
ترجمه فارسی عنوان
ریشه های استرس باقی مانده در فیلم های نازک: تعامل بین ریز ساختار و سینتیک رشد
کلمات کلیدی
فیلم های نازک رشد فیلم نازک، فیلمهای پلی کریستال، استرس باقی مانده، ریز ساختار، الکترود
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی (عمومی)
پیش نمایش مقاله
ریشه های استرس باقی مانده در فیلم های نازک: تعامل بین ریز ساختار و سینتیک رشد
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials & Design - Volume 110, 15 November 2016, Pages 616-623
نویسندگان
, , ,