کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7951958 1513702 2018 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Effect of stress profile on microstructure evolution of cold-drawn commercially pure aluminum wire analyzed by finite element simulation
ترجمه فارسی عنوان
اثر پروفیل استرس بر تکامل ریزساختار سیم آلومینیوم تجاری جامد سرد شده با استفاده از شبیه سازی عناصر محدود شده است
کلمات کلیدی
سیم آلومینیوم خالص تجاری، طراحی قرمز، بافت، شبیه سازی عنصر محدود، مشخصات استرس،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد شیمی مواد
چکیده انگلیسی
The evolution of microstructure in the drawing process of commercially pure aluminum wire (CPAW) does not only depend on the nature of materials, but also on the stress profile. In this study, the effect of stress profile on the texture evolution of the CPAW was systematically investigated by combining the numerical simulation and the microstructure observation. The results show that the tensile stress at the wire center promotes the formation of <111> texture, whereas the shear stress nearby the rim makes little contribution to the texture formation. Therefore, the <111> texture at the wire center is stronger than that in the surface layer, which also results in a higher microhardness at the center of the CPAW under axial loading.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Materials Science & Technology - Volume 34, Issue 7, July 2018, Pages 1214-1221
نویسندگان
, , , , , , , , ,