کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
9594527 | 1507964 | 2005 | 10 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structural properties of rf magnetron sputter deposited nickel manganate thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
شیمی
شیمی تئوریک و عملی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Films were studied by AFM and showed distinct crystallographic grains (sized â¼50Â nm) after annealing. The lattice constant of thin films was lower than for the bulk target material, but was not correlated with annealing temperature.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Surface Science - Volume 595, Issues 1â3, 5 December 2005, Pages 239-248
Journal: Surface Science - Volume 595, Issues 1â3, 5 December 2005, Pages 239-248
نویسندگان
R. Schmidt, A. Basu, A.W. Brinkman, T.P.A. Hase, Z. Klusek, S. Pierzgalski, P.K. Datta,