کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
9670512 1450403 2005 9 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Current status and challenges of ferroelectric memory devices
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر سخت افزارها و معماری
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Current status and challenges of ferroelectric memory devices
چکیده انگلیسی
In addition, we present a few new concepts based on ferroresistive films, strain induced enhanced ferroelectricity, and lead-free ferroelectrics which may be relevant for the future FeRAM technology. Finally, a new challenging concept of an entire organic ferroelectric field effect transistor (OFeFET) is briefly discussed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Microelectronic Engineering - Volume 80, 17 June 2005, Pages 296-304
نویسندگان
, , , , , , , ,