آشنایی با موضوع

در میکروسکوپ های الکترونی روبشی با برخورد پرتو الکترونی با اتمهای سطح نمونه و آشکارسازی الکترونهای ثانویه ناشی از یونیزاسیون اتمهای سبک در سطح نمونه و نیز الکترونهای برگشتی ناشی از برخورد الاستیک با هسته های اتمهای سنگین سطح نمونه و همچنین طیف نگاری اشعه ایکس تولید شده می توان به تصاویر و طیفهایی رسید که بیانگر اطلاعات با ارزشی از اتمهای تشکیل دهنده سطح نمونه بوده و به عنوان ابزاری کارآمد در بازه گسترده ای از پژوهشهای شناخت مواد و تصویر برداری از نمونه در ابعاد نانو متری به شمار می رود. شرکت پرتو رایان رستاک متکی به تجربه طولانی بیست ساله کارشناسان خود آمادگی دارد تا خدمات فنی و تخصصی شامل تامین دستگاه ها و لوازم یدکی و مصرفی، نصب و راه اندازی، تعمیرات و نگهداری و کالیبراسیون دستگاههای SEM را ارائه نماید. میکروسکوپ الکترونی روبشی یا SEM نوعی میکروسکوپ الکترونی است که قابلیت عکس‌برداری از سطوح با بزرگنمایی ۱۰ تا ۵۰۰۰۰۰ برابر با قدرت تفکیکی کمتر از ۱ تا ۲۰ نانومتر (بسته به نوع نمونه) را دارد. نخستین تلاش‌ها در توسعهٔ میکروسکوپ الکترونی روبشی به سال ۱۹۳۵ بازمی‌گردد که نول و همکارانش در آلمان پژوهش‌هایی در زمینهٔ پدیده‌های الکترونیک نوری انجام دادند. آرْدِن در سال ۱۹۳۸ با اضافه کردن پیچه‌های جاروب‌کننده به یک میکروسکوپ الکترونی عبوری توانست میکروسکوپ الکترونی عبوری-روبشی بسازد. استفاده از میکروسکوپ SEM برای مطالعهٔ نمونه‌های ضخیم اولین بار توسط زوُرِکین و همکارانش در سال ۱۹۴۲ در ایالات متحده گزارش شد. قدرت تفکیک میکروسکوپ‌های اولیه در حدود ۵۰ نانومتر بود. میکروسکوپ الکترونی روبشی بر اساس نحوه تولید باریکه الکترونی در آن به دو نوع Field Emission و Thermoionic Emission تقسیم‌بندی می‌شود که نوع Fe-SEM دارای بزرگنمایی و حد تفکیک بسیار بالاتری بوده و تصاویری با بزرگنمایی ۷۰۰ هزار برابر را با آن می‌توان به دست آورد. ساختار و اصول کاری میکروسکوپ الکترونی روبشی در میکروسکوپ الکترونی روبشی نیز پرتو الکترون‌ها باعث تشکیل تصویر می‌شوند، بنابراین تفنگ الکترونی از اجزای اصلی این میکروسکوپ نیز می‌باشد. پرتو الکترونی مورد نیاز برای این میکروسکوپ بین 1 تا 30 کیلو الکترون ولت در خلاء شتاب داده می‌شود و به کل نقاط سطح برخورد می‌کند، مانند آنچه در صفحه تلویزیون روی می‌دهد. در اینجا نیز مانند میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری، عدسی‌های مختلفی مانند عدسی‌های متمرکز‌کننده، عدسی‌های شیئی و چشمی وجود دارد. عدسی‌های متمرکزکننده باعث می‌شوند قطر پرتو تا حدود 2 تا 10 نانومتر کاهش پیدا کند. سیستم خلاء نیز در این‌جا مشابه میکروسکوپ الکترونی عبوری است. اما روش تشکیل تصویر و نحوه بزرگ‌نمایی کاملا متفاوت است. شکل 1 ساختار کلی میکروسکوپ الکترونی روبشی را نشان می‌دهد که مجهز به آشکارسازهای الکترون ثانویه و برگشتی هستند. محدودیت‌ها 1-کیفیت تصویر سطوح تخت، نظیر نمونه‌هایی که پولیش و حکاکی متالوگرافی شده‌اند، معمولاً در بزرگنمایی کمتر از 300 تا 400، برابر به خوبی میکروسکوپ نوری نیست. 2-قدرت تفکیک حکاکی بسیار بهتر از میکروسکوپ نوری است، ولی پایین‌تر از میکروسکوپ الکترونی عبوری و میکروسکوپ عبوری روبشی است.

در این صفحه تعداد 759 مقاله تخصصی درباره میکروسکوپ های الکترونی روبشی که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI ترجمه شده میکروسکوپ های الکترونی روبشی
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Scanning electron microscopy (SEM); Atomic force microscopy (AFM); X-ray diffraction (XRD); Cement; Nanosilica;
مقالات ISI میکروسکوپ های الکترونی روبشی (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; The Stein collection; Manuscripts; Conservation science; Silking; Scanning Electron Microscopy (SEM); Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDAX); Mycobiota; Culture dependent methods; Amplicon sequencing analyses; Conidia; Cellulolytic activity;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Scanning electron microscopy (SEM); Energy dispersive spectroscopy (EDS); Dynamic sampling; SLADS; Neural networks; Dose reduction;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Fly ash; Fineness; Replacement ratio; Mercury intrusion porosimetry (MIP); Scanning electron microscopy (SEM); X-ray diffraction (XRD) analysis;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Expanded polystyrene (EPS); Lightweight material; X-ray micro-tomography; Scanning electron microscopy (SEM); Microstructure; Thermal loads;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Ultrafast electron microscopy (UEM); Beam blankers; Photoconductive switches; Scanning electron microscopy (SEM); Transmission electron microscopy (TEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Blended cement pastes; Chemical admixtures; Fire resistance; Compressive strength; Differential scanning calorimetry (DSC); X-ray diffraction (XRD); Scanning electron microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Alloy (inconel) 718; Delta (δ) phase; Cold rolling; Finite element modeling (FEM); Precipitation kinetics; Kampmann-Wagner Numerical (KWN) modeling; Scanning electron microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Municipal solid waste (MSW); Physical characterization; Soil pollution; Open dumping; Scanning electron microscopy (SEM); Energy disperse X-ray spectroscopy (EDS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Alkali-activated slag-red mud; Waste management; Pore size distribution; Microstructure; Mechanical strength; Drying shrinkage; Scanning electron microscopy (SEM); Infrared spectroscopy (IR);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Assembly; Silica (SiO2); Nanoparticles; Cationic polyacrylamide (CPAM); Cellulose; Small Angle X-ray Scattering (SAXS); Dynamic Light Scattering (DLS); Scanning Electron Microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Concrete composite; Siliceous fly ash; Interfacial Transition Zone (ITZ); Microstructure; Microcrack; Scanning Electron Microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Polymer-matrix composites (PMCs); Nano particles; Mechanical properties; Scanning electron microscopy (SEM); Small-angle neutron scattering (SANS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Glass fibers; Electrical properties; Infrared (IR) spectroscopy; X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS); Scanning electron microscopy (SEM); Thermogravimetric analysis (TGA);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Metal matrix nanocomposites (MMNCs); Sintering; X-ray diffraction (XRD); Wear; Scanning electron microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Interfacial transition zone (ITZ); Microstructure; Scanning electron microscopy (SEM); Steel furnace slag (SFS); Basic oxygen furnace (BOF) slag; Electric arc furnace (EAF) slag; Ladle metallurgy furnace (LMF) slag;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; High entropy alloys; X-ray diffraction (XRD); Scanning electron microscopy (SEM); Solidification; Segregation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Carbon alloy; Magnetic fluid; Magnetic properties; Scanning electron microscopy (SEM); X-ray diffraction (XRD);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Power device; Failure analysis; Metallization microstructure aging; Scanning Electron Microscopy (SEM); Focused Ion Beam (FIB); Temperature cycles; Curvature experiment;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Fatigue; Hydrogen embrittlement; Dislocations; Scanning electron microscopy (SEM); Transmission electron microscopy (TEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; LDH; layered double hydroxide; XRD; X-ray diffraction; ICP-AES; inductively coupled plasma-atomic emission spectrometry; SEM; scanning electron microscopy (SEM); Magnesium-aluminum layered double hydroxide; Preparation; Particle size distribution; Parti
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Nanocomposites; Congo red dye; Scanning electron microscopy (SEM); Thermogravimetric analysis (TGA); X-ray diffraction (XRD);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Graphene; Aluminum matrix composites; Electrical Conductivity; Tensile Strength; Raman Spectroscopy; Scanning Electron Microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Liard Basin; Organic petrology; Porosity; Pore size distribution; Unconventional hydrocarbon resources; Scanning electron microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Polymer-matrix composites; Fluid heat convection; Thermal properties; Mechanical properties; Scanning electron microscopy (SEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: میکروسکوپ های الکترونی روبشی ; Carbon nanofiber (CNF); Atomic force microscopy (AFM); Fourier transforms infrared spectroscopy (FTIR); Scanning electron microscopy (SEM); Thermogravimetric analysis (TGA);