کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10407981 | 893323 | 2005 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Polarisation interferometry flying height testing
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The in-depth analyses of polarisation interferometry flying height testing are presented. The drawbacks of the oblique incidence polarisation interferometry method are discussed. The application of the dual-beam normal incidence polarisation interferometry method is illustrated. It is shown that with this normal incidence polarisation interferometer, not only the flying height can be measured down to contact without losing accuracy, but the optical parameters of the head-slider can also be determined.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics & Laser Technology - Volume 37, Issue 1, February 2005, Pages 21-27
Journal: Optics & Laser Technology - Volume 37, Issue 1, February 2005, Pages 21-27
نویسندگان
Xinqun Liu, Warwick Clegg, Bo Liu,