کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10408563 | 893607 | 2011 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Development and construction of rotating polarizer analyzer ellipsometer
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠One to two ratio rotating polarizer analyzer ellipsometer is constructed. ⺠Mathematical analysis is shown in detail. ⺠Optical properties of c-Si, Au, and ZnSe were obtained experimentally. ⺠Two ellipsometry standards were investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics and Lasers in Engineering - Volume 49, Issue 4, April 2011, Pages 507-513
Journal: Optics and Lasers in Engineering - Volume 49, Issue 4, April 2011, Pages 507-513
نویسندگان
Taher M. El-Agez, Sofyan A. Taya,