کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10408563 893607 2011 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Development and construction of rotating polarizer analyzer ellipsometer
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Development and construction of rotating polarizer analyzer ellipsometer
چکیده انگلیسی
► One to two ratio rotating polarizer analyzer ellipsometer is constructed. ► Mathematical analysis is shown in detail. ► Optical properties of c-Si, Au, and ZnSe were obtained experimentally. ► Two ellipsometry standards were investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics and Lasers in Engineering - Volume 49, Issue 4, April 2011, Pages 507-513
نویسندگان
, ,