کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10424716 | 906562 | 2005 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Characterization of nano and meso scale deformation structures with intense X-ray synchrotron sources
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Characterization of nano and meso scale deformation structures with intense X-ray synchrotron sources Characterization of nano and meso scale deformation structures with intense X-ray synchrotron sources](/preview/png/10424716.png)
چکیده انگلیسی
Advanced polychromatic microdiffraction is sensitive to the organization of dislocations and other defects that rotate the lattice planes. Using ultra-brilliant third-generation synchrotron sources and non-dispersive X-ray focusing optics, it is now possible to analyze individual dislocation cells and walls at a submicron scale that cannot be probed by traditional methods. The method is applied to an Ir weld sample to illustrate how microdiffraction can be used to determine the locally active dislocation system.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Composites Part B: Engineering - Volume 36, Issue 3, April 2005, Pages 271-277
Journal: Composites Part B: Engineering - Volume 36, Issue 3, April 2005, Pages 271-277
نویسندگان
G.E. Ice, R.I. Barabash, F.J. Walker,