کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10727581 1037652 2011 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Valence-band offset of p-NiO/n-ZnO heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک و نجوم (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Valence-band offset of p-NiO/n-ZnO heterojunction measured by X-ray photoelectron spectroscopy
چکیده انگلیسی
► We measured the ΔEV of NiO/ZnO heterojunction which use NiO as the epitaxial layer. ► The NiO/ZnO heterojunction has a type-II band alignment with ΔEV of 1.47 eV. ► The ΔEV of NiO/ZnO at different growth sequence of ZnO and NiO layers are different.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physics Letters A - Volume 375, Issue 16, 18 April 2011, Pages 1760-1763
نویسندگان
, , , , , ,