کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10727842 1037751 2013 4 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
New method for measuring beam profiles using a parametric X-ray pinhole camera
ترجمه فارسی عنوان
روش جدید برای اندازه گیری پروفیل پرتو با استفاده از یک دوربین پین هول پارامتریک اشعه ایکس
کلمات کلیدی
پارامتر اشعه ایکس، پین هول، مشخصات پرتو،
ترجمه چکیده
ما یک روش جدید برای اندازه گیری پروفیل پرتو الکترونی با استفاده از تابش اشعه پارامتریک پیشنهاد می کنیم. در این روش، یک پین هول بین منبع اشعه ایکس پارامتریکی و یک سنجد اشعه ایکس دو بعدی قرار می گیرد و پروفیل پرتو را می توان بر روی آشکارساز بازسازی کرد، یعنی بر اساس اصل یک دوربین پین هاله. پروفیل ها با نتایجی که با استفاده از یک روش استاندارد با پرتو انتقال نوری به دست می آیند، در توافق خوب هستند. این روش برای اندازه گیری پروفیل های پرتوهای الکترون با طول موج های کوتاه در شتاب دهنده های پیشرفته سریع پیشرفته مفید است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک و نجوم (عمومی)
پیش نمایش مقاله
روش جدید برای اندازه گیری پروفیل پرتو با استفاده از یک دوربین پین هول پارامتریک اشعه ایکس
چکیده انگلیسی
We propose a new method for measuring electron beam profiles using parametric X-ray radiation. In this method, a pinhole is placed between the source of parametric X-ray radiation and a two-dimensional X-ray detector, and the beam profile can be reconstructed on the detector, i.e., based on the principle of a pinhole camera. The profiles are in good agreement with the results obtained using a standard method with optical transition radiation. This method may prove useful to measure profiles of electron beams with short bunch lengths in recent advanced linear accelerators.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physics Letters A - Volume 377, Issue 38, 15 November 2013, Pages 2577-2580
نویسندگان
, ,