کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
171334 | 458450 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Attachment of trianglamines to silicon wafers, chiral recognition by chemical force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
مهندسی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The chemical attachment of enantiomerically pure trianglamines to silicon wafers through isocyanate functions was performed. The self-assembled monolayer was analyzed by ATR-FTIR, ellipsometry, AFM, contact angle measurements. An AFM tip was functionalized by enantiomerically pure trianglamine using the same pathway. Chemical force microscopy showed chiral recognition between the functionalized tip and the functionalized wafer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Comptes Rendus Chimie - Volume 13, Issue 4, April 2010, Pages 481–485
Journal: Comptes Rendus Chimie - Volume 13, Issue 4, April 2010, Pages 481–485
نویسندگان
Jiri Hlinka, Jana Hodacova, Laurence Raehm, Michel Granier, Michel Ramonda, Jean-Olivier Durand,