کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1784679 | 1023272 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Raman spectroscopic study of HgCdTe epilayers for infrared detector array fabrication
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Micro-Raman spectroscopy was used to evaluate the surface quality of Hg1âxCdxTe (x = 0.3) epitaxial layers polished with chemo-mechanical and free chemical etching processes. Raman technique has been employed to monitor the HgCdTe detector array fabrication process to ensure epilayer surface devoid of impurities and minimal damage. Chemical etching with bromine-methanol solution is seen to leave residual damage or non-stoichiometric HgCdTe surface layer indicated by an asymmetrical broadening and down shift in all Raman peaks. A peak at 112 cmâ1 as defect mode or due to disordering on the epilayer surface has been noticed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 54, Issue 1, January 2011, Pages 44-47
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 54, Issue 1, January 2011, Pages 44-47
نویسندگان
Anand Singh, R. Pal, V. Dhar, S.C. Pant,