کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1784936 | 1023287 | 2007 | 13 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The classical oscillator model and dielectric constants extracted from infrared reflectivity measurements
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: The classical oscillator model and dielectric constants extracted from infrared reflectivity measurements The classical oscillator model and dielectric constants extracted from infrared reflectivity measurements](/preview/png/1784936.png)
چکیده انگلیسی
The theoretical foundation of the classical oscillator model for the dielectric response of doped semiconductors is reviewed and some errors from the literature are pointed out. Four different modifications of the plasma frequency are identified and their physical significance is given. The influence of the dielectric parameters on reflectivity is discussed. Large changes in the dielectric parameters extracted from experimental reflectivity measurements have been reported, when in fact inappropriate or inadequate reflectivity models have been applied.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 51, Issue 1, July 2007, Pages 31–43
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 51, Issue 1, July 2007, Pages 31–43
نویسندگان
R.E. Kroon,