کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1785196 | 1023304 | 2006 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Cost-effective infrared thermography protocol for 40 μm spatial resolution quantitative microelectronic imaging
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک اتمی و مولکولی و اپتیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
In this article, we will show that the absolute temperature of electrical components under test can be measured with an infrared camera. An easy and cost-effective modification of the optical set-up and a software correction of the artefacts induced by the modification of the aperture of the objective allow to improve the spatial resolution. Calibrations with a Peltier system allow to obtain quantitative measurements. Consequently, it becomes easy to obtain a mapping of the absolute temperature of the surface of an integrated circuit from its infrared radiation, independently of its surface emissivity with a spatial resolution better than 40 μm.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 48, Issue 2, June 2006, Pages 122–129
Journal: Infrared Physics & Technology - Volume 48, Issue 2, June 2006, Pages 122–129
نویسندگان
Christine Boué, Danièle Fournier,