کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1800261 1024519 2012 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Low temperature radio-frequency transverse susceptibility measurements using a CMOS oscillator circuit
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم فیزیک ماده چگال
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Low temperature radio-frequency transverse susceptibility measurements using a CMOS oscillator circuit
چکیده انگلیسی
► An improved magnetic transverse susceptibility measurement equipment is presented. ► The electronics of the equipment are redesigned by using CMOS transistors. ► Minimal thermal leak of the probe is obtained allowing to measure from 1.8 K. ► The sensitivity of the equipment is 10−6 emu at low temperatures. ► The data acquisition sequences are implemented in the PPMS MultiVu software.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Magnetism and Magnetic Materials - Volume 324, Issue 17, August 2012, Pages 2669-2675
نویسندگان
, , , , , , , ,