کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
180611 | 459384 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
High-aspect ratio needle probes for combined scanning electrochemical microscopy — Atomic force microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
مهندسی شیمی (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The development and characterisation of high-aspect ratio needle probes for combined scanning electrochemical microscopy–atomic force microscopy (SECM–AFM) is described. Commercially available coated metallic needle probes have been modified by a simple procedure to yield probes with an addressable nano-disk electrode integrated into the tip apex. The probes behaved well electrochemically, with a typical electrochemical radius of approximately 140 nm and the preliminary application of these probes to high-resolution topographical and electrochemical imaging was demonstrated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Electrochemistry Communications - Volume 13, Issue 1, January 2011, Pages 78–81
Journal: Electrochemistry Communications - Volume 13, Issue 1, January 2011, Pages 78–81
نویسندگان
Andrew J. Wain, David Cox, Shengqi Zhou, Alan Turnbull,