Variation of the structural and optical properties of sol–gel TiO2 thin films with different treatment temperatures

Structural and optical properties of TiO2 thin films prepared using a sol–gel process have been examined at different treatment temperatures and for different layer counts. XRD and Raman analyzes of our thin films of TiO2 show that 3 layer films crystallize in anatase and brookite phases, starting from the temperature of annealing 350 °C. The grain size calculated from XRD patterns varies from 6.7 to 23.5 nm. Refractive index and porosity are found to vary with treatment temperature and number of dippings. Our films, irrespective of treatment temperature and number of dippings, are transparent in the visible range and opaque in the UV region. To cite this article: R. Mechiakh, R. Bensaha, C. R. Physique 7 (2006).

RésuméLes propriétés structurales et optiques de couches minces de TiO2 obtenues par le procédé sol–gel ont été examinées à différentes températures de recuit ainsi qu'à différents trempages. Les analyses aux rayons X et spectroscopie Raman montrent que les couches minces de TiO2 obtenues pour 3 trempages cristallisent, dans les phases anatase et brookite, à partir de la température de recuit 350 °C. La taille des grains calculée à partir des diagrammes de diffraction varie de 6,7 à 23,5 nm. L'indice de réfraction et la porosité varient en fonction de la température de recuit et du nombre de trempages. Nos couches sont transparentes dans le visible et opaques dans l'UV, et ceci quelles que soient la température et le nombre de trempages. Pour citer cet article : R. Mechiakh, R. Bensaha, C. R. Physique 7 (2006).