کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1888252 | 1533431 | 2013 | 32 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the trap depth of the IR-sensitive trap in Na- and K-feldspar
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
تشعشع
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The fast phosphorescence following IRSL in both crystals is likely the result of tunnelling from band-tail states in the vicinity of the excited state of the IR-trap. The post-OSL phosphorescence decay is an order of magnitude slower, owing to the contribution from tunnelling of charge from a range of occupied band-tail states. The lack of dependence of the phosphorescence decay rate on the excitation energy (in the range of 1.7-2.8Â eV), unambiguously indicates that a single mechanism causes the post-OSL phosphorescence signal.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Radiation Measurements - Volume 59, December 2013, Pages 103-113
Journal: Radiation Measurements - Volume 59, December 2013, Pages 103-113
نویسندگان
Romée H. Kars, Nigel R.J. Poolton, Mayank Jain, Christina Ankjærgaard, Pieter Dorenbos, Jakob Wallinga,