کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1888252 1533431 2013 32 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the trap depth of the IR-sensitive trap in Na- and K-feldspar
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه فیزیک و نجوم تشعشع
پیش نمایش صفحه اول مقاله
On the trap depth of the IR-sensitive trap in Na- and K-feldspar
چکیده انگلیسی
The fast phosphorescence following IRSL in both crystals is likely the result of tunnelling from band-tail states in the vicinity of the excited state of the IR-trap. The post-OSL phosphorescence decay is an order of magnitude slower, owing to the contribution from tunnelling of charge from a range of occupied band-tail states. The lack of dependence of the phosphorescence decay rate on the excitation energy (in the range of 1.7-2.8 eV), unambiguously indicates that a single mechanism causes the post-OSL phosphorescence signal.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Radiation Measurements - Volume 59, December 2013, Pages 103-113
نویسندگان
, , , , , ,