کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
458363 | 696138 | 2006 | 11 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Forensic imaging of embedded systems using JTAG (boundary-scan)
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
شبکه های کامپیوتری و ارتباطات
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper describes how to use JTAG (JTAG: Joint Test Action Group, also called boundary-scan) for producing a forensic image (image: an one-on-one copy of data found on an exhibit) of an embedded system. A JTAG test access port is normally used for testing printed circuit boards or for debugging embedded software. The method described in this paper uses a JTAG test access port to access memory chips directly. By accessing memory chips directly, the risk of changing data in the exhibit is minimized. Also user level passwords can be omitted.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Digital Investigation - Volume 3, Issue 1, March 2006, Pages 32–42
Journal: Digital Investigation - Volume 3, Issue 1, March 2006, Pages 32–42
نویسندگان
Ing. M.F. Breeuwsma,