کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4925213 1431274 2017 30 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Evaluation of pile defects using complex continuous wavelet transform analysis
ترجمه فارسی عنوان
بررسی نقص شمع با استفاده از تجزیه و تحلیل تحول موجک پیچیده پیوسته
کلمات کلیدی
تست غیر مخرب، توده، کاستی، تبدیل ویولت پیوسته پیچیده،
ترجمه چکیده
در سال های اخیر، تکنیک تبدیل موجک به طور گسترده ای در پردازش سیگنال در زمینه های مختلف کاربرد دارد، از جمله آزمایش های غیر مخرب پایه های شمع. با این حال، بیشتر آن در فیلتر کردن سیگنال و تجزیه و تحلیل دیاگرام فرکانس زمانی استفاده می شود. این مقاله با استفاده از تحول موجک پیچیده پیوسته برای تعیین طول شمع و نقاط نقص در پایه های شمع با تحلیل زاویه فاز زمان-فرکانس در باند فرکانس مختلف، با موفقیت انجام گرفت. برای بررسی رویکرد پیشنهادی در این مطالعه، شش شمع با انواع نقص های مختلف نصب و آزمایش شده اند. نتایج نشان می دهد که تبدیل موجک پیوسته پیچیده نه تنها قادر به ارائه نتایج با وضوح بالا در باند فرکانس های مختلف است که شبیه به تبدیل موجک پیوسته است، بلکه شناسایی بازتاب نقص ها را با استفاده از طیف سنج فاز سه بعدی ساده می کند. سپس محل نقص ها می تواند به آسانی با استفاده از فرکانس فاز زیر فرکانس خاص مشخص شود.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی عمران و سازه
پیش نمایش مقاله
بررسی نقص شمع با استفاده از تجزیه و تحلیل تحول موجک پیچیده پیوسته
چکیده انگلیسی
In recent years, the technique of wavelet transform has been applied widely in signal processing in different fields, including non-destructive testing of pile foundations. However, it was used mostly in signal filtering and the analysis of time-frequency diagram. This paper successfully utilized complex continuous wavelet transform to determine pile length and locations of defects on pile foundations by analyzing the time-frequency-phase angle diagram in different frequency band. Six piles with different types of defects were installed and tested to verify the proposed approach in this study. The results shows that complex continuous wavelet transform not only is able to provide high resolution results in different frequency bands, which is similar to that of continuous wavelet transform, but also simplifies the identification of the reflection of defects using 3D phase spectrogram. The location of defects can then be easily determined using phase diagram under the corresponding specific frequency.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: NDT & E International - Volume 87, April 2017, Pages 50-59
نویسندگان
, , , ,