Estimation of reliability with semi-parametric modeling of degradation

در بسیاری از سناریوهای زندگی واقعی، استرس در طول زمان تجمع می یابد و سیستم به محض اینکه استرس انباشته شده یا تخریب برابر یا بیش از آستانه انتقادی می شود، شکست نمی خورد. برای بعضی از دستگاهها، ممکن است اندازه گیری های تخریب در طول زمان به دست آید، و این اندازه گیری ها ممکن است شامل اطلاعات مفید در مورد قابلیت اطمینان محصول باشد. در این مقاله، ما یک مدل تصادفی نیمه پارامتری (ضعف) برای مسیر تخریب و روش تخمین این مسیر و همچنین قابلیت اطمینان ارائه می دهیم. سازگاری برآوردگر در شرایط عمومی ایجاد شده است. نتایج شبیه سازی نشان دهنده برتر بودن عملکرد روش پیشنهادی بر یک رقیب پارامتری است. این روش از طریق تجزیه و تحلیل یک مجموعه داده واقعی نشان داده شده است.