کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
4954122 1443126 2017 6 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
On the pinched hysteresis behavior in a state-controlled resistor
ترجمه فارسی عنوان
در مورد رفتار هیسترزیس در یک مقاومت در حالت کنترل شده
ترجمه چکیده
ما نشان می دهیم که رفتار هیسترزیس ضعیف مشاهده شده در یک مقاومت با ولتاژ کنترل با خود کنترل کنترل وضعیت می تواند به جاری جریان در ظرفیت پارازیتی نگه داشتن ولتاژ در این مقاومت. مدل ریاضی توصیف این ساختار مدار مشتق شده و به صورت عددی معتبر است. برای ارائه شواهد تجربی از این پیشنهاد، مدار نماینده یک مقاومت با ولتاژ کنترل به صورت موازی با یک خازن قرار داده می شود و سپس جریان در این خازن، که متناسب با مشتق ولتاژ اعمال شده است، حس می شود، تبدیل به یک ولتاژ و برای کنترل ارزش مقاومت استفاده می شود. این امر منجر به ظهور یک حلقه هیسترزیس شدید می شود که به لحاظ نظری پیش بینی شده است. این کار بینش مناسبی را برای منشاء این رفتار در دستگاه های ساخته شده حالت جامد فراهم می کند که می توان نشان داد که به دنبال ساختار مدار پیشنهاد شده است.
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی کامپیوتر شبکه های کامپیوتری و ارتباطات
چکیده انگلیسی
We show that the pinched hysteresis behavior observed in a voltage-controlled resistor with state-feedback self-control can be attributed to the current flowing in the parasitic capacitance holding the voltage across this resistor. A mathematical model describing this circuit structure is derived and validated numerically. To provide experimental evidence of this proposal, a circuit representing a voltage-controlled resistor is placed in parallel with a capacitor and then the current in this capacitor, which is proportional to the derivative of the applied voltage, is sensed, converted into a voltage and used to control the resistance value. This leads to the appearance of a pinched hysteresis loop as theoretically predicted. This work provides further insight into the origin of this behavior in fabricated solid-state devices that can be shown to follow the proposed circuit structure.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: AEU - International Journal of Electronics and Communications - Volume 74, April 2017, Pages 171-175
نویسندگان
, , ,