کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
507836 | 865148 | 2012 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
DIIS: A cross-platform program for the reduction of X-ray diffraction data from a cylindrical area detector
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی کامپیوتر
نرم افزارهای علوم کامپیوتر
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A new program capable of rapidly and accurately reducing a two-dimensional X-ray diffraction pattern obtained from a Debye–Scherrer or Gandolfi camera to a quantitative digital diffractogram is described. By implementing geometric optimization routines based on the symmetry and sharpness of diffraction lines, the optimal configuration of the camera, X-ray path, and sample can be determined, thus providing the best possible set of integration parameters. Results for NIST standard reference materials 640c (Si) and 676 (Al2O3) are included to illustrate program functionality.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Computers & Geosciences - Volume 38, Issue 1, January 2012, Pages 156–163
Journal: Computers & Geosciences - Volume 38, Issue 1, January 2012, Pages 156–163
نویسندگان
J.A. Petrus, K.C. Ross, A.M. McDonald,