کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
5497280 | 1530940 | 2016 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Performance and Characterization of CsI:Tl thin Films for X-ray Imaging Application
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
فیزیک و نجوم
فیزیک و نجوم (عمومی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Performance and Characterization of CsI:Tl thin Films for X-ray Imaging Application Performance and Characterization of CsI:Tl thin Films for X-ray Imaging Application](/preview/png/5497280.png)
چکیده انگلیسی
High spatial resolution thin CsI:Tl scintillator films was prepared by thermal deposition method for X-ray imaging applications. We fabricated CsI:Tl scintillators ranging from 2 μm to 14 μm in thickness. We measured spacial resolution and light yield as a function of input photons energy (5-40 keV) and film thickness. To improve spatial resolution of films carbon post-deposition treatments was performed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Physics Procedia - Volume 84, 2016, Pages 245-251
Journal: Physics Procedia - Volume 84, 2016, Pages 245-251
نویسندگان
E.A. Kozyrev, K.E. Kuper, A.G. Lemzyakov, A.V. Petrozhitskiy, A.S. Popov,