کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
606816 1454548 2015 30 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Detailed statistical contact angle analyses; “slow moving” drops on inclining silicon-oxide surfaces
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل زاویه تماس دقیق؛ ؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟ قطره روی سطوح سیلیکون اکسید
کلمات کلیدی
افت فشار سطح ویفر سیلیکون، تحلیل آماری، زاویه تماس، تکان دادن
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی شیمی شیمی کلوئیدی و سطحی
پیش نمایش مقاله
تجزیه و تحلیل زاویه تماس دقیق؛ ؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟؟ قطره روی سطوح سیلیکون اکسید
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Colloid and Interface Science - Volume 447, 1 June 2015, Pages 229-239
نویسندگان
, , , ,