کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
609125 | 880615 | 2010 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Change in the microstructure at W/Si interface and surface by swift heavy ions
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
شیمی کلوئیدی و سطحی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
⺠The mixing induced by swift heavy ions at W/Si interface has been reported first time through this article. ⺠GIXRD result shows the formation of two type of tungsten silicides t-W5Si3 along with t-WSi2 by atomic mixing at the interface. ⺠AFM results revealed increase in surface roughness and grain size which increases with ion fluence and at the highest fluence grains become stable and converted into a particular shape showing the irradiation effect at the surface also.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Colloid and Interface Science - Volume 351, Issue 2, 15 November 2010, Pages 570-575
Journal: Journal of Colloid and Interface Science - Volume 351, Issue 2, 15 November 2010, Pages 570-575
نویسندگان
Garima Agarwal, Vaibhav Kulshrestha, Pratibha Sharma, I.P. Jain,