کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
618950 | 1455045 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Microstructural characterization of the tool–chip interface enabled by focused ion beam and analytical electron microscopy
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
شیمی کلوئیدی و سطحی
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Microstructural characterization of the tool–chip interface enabled by focused ion beam and analytical electron microscopy Microstructural characterization of the tool–chip interface enabled by focused ion beam and analytical electron microscopy](/preview/png/618950.png)
چکیده انگلیسی
A method based on focused ion beam milling and analytical electron microscopy to investigate the nature of the tool–chip interface is presented. It is employed to study tool–chip interfaces of the rake face of a (Ti0.83Si0.17)N coated PCBN insert after turning of case-hardened steel. Analytical electron microscopy shows the presence of a smeared adhered layer on the coating, which consists of steel elements from the work-piece, oxygen, and Si and N, most likely originating from the coating.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Wear - Volume 266, Issues 11–12, 30 May 2009, Pages 1237–1240
Journal: Wear - Volume 266, Issues 11–12, 30 May 2009, Pages 1237–1240
نویسندگان
A. Flink, R. M'Saoubi, F. Giuliani, J. Sjölén, T. Larsson, P.O.Å. Persson, M.P. Johansson, L. Hultman,