کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
7000298 | 1454603 | 2013 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
A new approach to the investigation of nanoparticles: Electron tomography with compressed sensing
ترجمه فارسی عنوان
روشی جدید برای بررسی نانوذرات: توموگرافی الکترونی با حساسیت فشرده
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی شیمی
شیمی کلوئیدی و سطحی
چکیده انگلیسی
⺠Electron tomography (ET) provides 3D analysis with nanometre resolution. ⺠Compressed sensing (CS) reduces the number of images needed for ET reconstruction. ⺠The essence and value of CS-ET are outlined and demonstrated with examples. ⺠CS-ET has the potential to enable study of beam sensitive materials. ⺠An appendix discusses the salient aspects of CS in tutorial fashion.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Journal of Colloid and Interface Science - Volume 392, 15 February 2013, Pages 7-14
Journal: Journal of Colloid and Interface Science - Volume 392, 15 February 2013, Pages 7-14
نویسندگان
John Meurig Thomas, Rowan Leary, Paul A. Midgley, Daniel J. Holland,