کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
7216948 1470228 2018 32 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
In-situ X-ray diffraction on functional thin films using a laboratory source during electrical biasing
ترجمه فارسی عنوان
پراش اشعه ایکس در محل در فیلم های نازک کاربردی با استفاده از یک منبع آزمایشگاهی در حین جابجایی الکتریکی
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه سایر رشته های مهندسی مهندسی (عمومی)
پیش نمایش مقاله
پراش اشعه ایکس در محل در فیلم های نازک کاربردی با استفاده از یک منبع آزمایشگاهی در حین جابجایی الکتریکی
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Materials & Design - Volume 154, 15 September 2018, Pages 340-346
نویسندگان
, , , , ,