کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
723828 | 892354 | 2006 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
FLYING WAFER - A STANDARDISED METHODOLOGY FOR MULTI-SITE PROCESSING OF 300 MM WAFERS AT R&D-SITES
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مکانیک محاسباتی
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
FLYING WAFER was a joint European project funded in the 6th Framework of the European Commission. The objective was to provide a methodology for interlinking European R&D centres in micro- and nanotechnologies to a distributed 300 mm CMOS R&D line. The FLYING WAFER project was carried out as a feasibility study. Therefore, the results provided a model and concept which has the potential of guaranteeing a safe and fast exchange of wafers and data between European R&D nodes to allow multi-site processing.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: IFAC Proceedings Volumes - Volume 39, Issue 3, 2006, Pages 59-64
Journal: IFAC Proceedings Volumes - Volume 39, Issue 3, 2006, Pages 59-64