کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
735845 | 893667 | 2011 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Evaluation of the piezoelectric behaviour produced by a thick-film transducer using digital speckle pattern interferometry
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
سایر رشته های مهندسی
مهندسی برق و الکترونیک
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
This paper presents an interferometric measurement of the out-of-plane deflections produced by a piezoelectric transducer, manufactured by thick-film deposition of a ceramic paste over an alumina substrate, when is subjected to a DC electric voltage. It is shown that a digital speckle pattern interferometer with an incorporated phase-shifting facility allows the measurement of nanometer displacements generated by the piezoelectric device. These measurements are used to evaluate the effective piezoelectric charge constant along the polarization direction (d33)eff that characterizes the thick-film transducer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Optics and Lasers in Engineering - Volume 49, Issue 2, February 2011, Pages 281–284
Journal: Optics and Lasers in Engineering - Volume 49, Issue 2, February 2011, Pages 281–284
نویسندگان
Lucas P. Tendela, Alejandro Federico, Guillermo H. Kaufmann,